Внимание - доступна новая модель тестера !
купить Тестер шлейфов матрицы LVDS и eDP + тестер клавиатур . Vertyanov
Тестер шлейфов матрицы LVDS и eDP .
тестер питается от аккумулятора . Заряжается АКБ через разьем micro USB , Аккумулятор в комплекте !
полную инструкцию с иллюстрациями вы можете скачать по ссылке в карточке товара !
Тестер предназначен для диагностики целостности шлейфов интерфейса LVDS (30-40 pin) и eDP (30-40 pin) распространенных, стандартных матриц.
Позволяет выявить ненадежные контакты в поврежденных проводниках, методом механического воздействия на шлейф. Либо выявить проблему в случаях отсутствия изображения по причине обрывов. Также, тестер позволяет определить наличие коротких замыканий в шлейфе.
Подключается к шлейфу со стороны матрицы. Для диагностики обрывов, требуется подключение шлейфа к материнской плате ноутбука. Проверка на наличие коротких замыканий осуществляется без подключения к МП.
При использовании тестера, материнская плата должна быть обесточена!
Тестер подключается к шлейфу со стороны матрицы. Другой конец шлейфа при этом подключен к материнской плате ноутбука (МП). Включение и выключение тестера - автоматическое (используется один из GND для запуска прибора).
В этом режиме тестер выдает переменный сигнал на все линии шлейфа, через светодиоды и токоограничивающие резисторы. Переменный сигнал необходим для диагностики линий eDP.
По свечению светодиодов определяется наличие контакта или обрыва проводников от коннектора матрицы до МП линий LVDS, eDP, а также питания матрицы, линий EDID и линий управления подсветкой.
Яркость светодиодов по сигнальным линиям LVDS/eDP зависит от падения напряжения на стороне МП, по которому, в некоторых случаях, можно выявить КЗ или обрыв в процессоре, хабе, трансляторе в сигнальных парах, различив разность свечения светодиодов, что является сигналом для анализа. А также, визуально яркость может быть одинакова при наличии КЗ на сигнальной шине одной из пар, в этом случае рекомендуется сравнить размах сигналов осциллографом на контрольных точках.
Яркость светодиодов по линиям управления зависит от способа их реализации в МП - с МК, видеочипа, буферных/логических элементов и т.п. В некоторых случаях, например если сигнал на МП включается полевым транзистором, свечение может быть очень слабым, даже если шлейф в порядке.
Также на плату выведены площадки для удобного подключения щупа осциллографа. Площадки подключены напрямую к сигнальным линиям на разъемах. Это позволяет проанализировать сигнал и сделать выводы о исправности шлейфа и МП.